ДИПЛОМНІ КУРСОВІ РЕФЕРАТИ


ИЦ OSVITA-PLAZA

Реферати статті публікації

Пошук по сайту

 

Пошук по сайту

Головна » Реферати та статті » Фізика » Основи кристалофізики

Кристалл с плоскопараллельной прослойкой в электрическом поле
Решим следующую общую задачу: в безграничной
анизотропной среде, характеризуемой тензором диэлектрической
проницаемости х(в), имеется плоскопараллельная прослойка из другого
анизотропного материала с тензором диэлектрической
проницаемости х^. Единичный вектор нормали к плоскости прослойки
обозначим, как обычно, п. Пусть в среде электрическое поле Е{е)
однородно. Найдем поле в прослойке E{i). Естественно
предположить, что оно также однородно. Тогда дифференциальные уравнения
электростатики удовлетворятся тождественно и останется
позаботиться лишь о выполнении граничных условий. Чтобы вектор Е
-удовлетворял граничным условиям, необходимо, чтобы векторы Eie)
и E{i) отличались друг от друга на вектор, параллельный нормали п:
ЕЮ = ЕМ + An. B8.9)
Неизвестную пока постоянную А найдем из граничных условий
для вектора индукции. Индукция в среде
DM = *M-Be\ B8.10)
а в прослойке
Граничные условия для D требуют, чтобы
п • х<*> • ЕМ + An • х<*> • л = л • х<*> • EMf B8.12)
откуда находим
A = *ul*w-*puEW B8.13)
и, наконец,
.£« + *•(*'*-*'")•*'" я, B8.14)
Е? = [б„ + A/4V*) п,Щ D1 - 41)] Е?.
Если, в частности, поле в среде перпендикулярно к плоскости
прослойки, то и поле в прослойке обладает этим свойством и,
как нетрудно подсчитать, равно
n^lL JBi^L. B8.15)
ЛХ">Л '
Рассмотрим важные частные случаи, сводящиеся к
рассмотренной задаче.
7 Ю. И, Сиротин, М. П. Шаскольская
194 ВВЕДЕНИЕ В КРИСТАЛЛОФИЗИКУ [ГЛ. III
Таблица 28.1
Нормальная составляющая п • х • п тензора диэлектрической
проницаемости х, выраженная через компоненты единичного
вектора п и через индексы Миллера (hkl) плоскости,
перпендикулярной к п
Триклинная система, общие формулы
П • X • /| = Xj//lj/l/
3 J
Моноклинная система B [| Х2, т 1 Х2)
n2p + /2а2^2 (Нп cos2p + Щз sin2P -Xaf sin 2p) -
2lhab*c (xucos p—x8i sin $)]/(h*b2c2 + k2c2a? sin2 p + /aa2^2_2lhab2ccos 0)
Ромбическая система
Кристаллы средней категории и текстуры
я • к - я—Хц (л} + л|)+х38л? =- Хц + (х88—Хц) /
Тетрагональная система
Гексагональная и тригональная системы (в гексагональной установке)
Кубическая система и изотропные тела
п-к* п = к
Обозначения. Л— индексы Миллера для плоскости, Е{ — матрица,
связывающая орты е^ кристаллофизической системы координат с основными векторами аа
кристаллической решетки: ei = ^?Ла'» g^6 — контравариантные компоненты
метрического тензора решетки, а, Ь, с, Р — параметры ячейки.

Ви переглядаєте статтю (реферат): «Кристалл с плоскопараллельной прослойкой в электрическом поле» з дисципліни «Основи кристалофізики»

Заказать диплом курсовую реферат
Реферати та публікації на інші теми: Аудит доходів та витрат іншої діяльності
Аудит установчих документів
Стратегічні міркування
Слово і його ознаки
Аудит нематеріальних активів. Мета і завдання аудиту


Категорія: Основи кристалофізики | Додав: koljan (09.12.2013)
Переглядів: 532 | Рейтинг: 0.0/0
Всього коментарів: 0
Додавати коментарі можуть лише зареєстровані користувачі.
[ Реєстрація | Вхід ]

Онлайн замовлення

Заказать диплом курсовую реферат

Інші проекти




Діяльність здійснюється на основі свідоцтва про держреєстрацію ФОП