ДИПЛОМНІ КУРСОВІ РЕФЕРАТИ


ИЦ OSVITA-PLAZA

Реферати статті публікації

Пошук по сайту

 

Пошук по сайту

Головна » Реферати та статті » Фізика » Теоретична фізика у 10 томах

Диэлектрическая проницаемость магнитоактивной максвелловской плазмы
Электронный вклад в тензор диэлектрической проницаемо-
сти вычисляется по функции распределения согласно формуле
Ра =
4тг
= ¦?- Г va5f <Pp E4.1)
iuj J
(и аналогично, с заменой е —>> — ze — ионный вклад). Для мак-
свелловской плазмы интегрирование по (ftp в этом выражении
может быть выполнено в явном виде.
1) Соответствующие рассуждения изложены более подробно по аналогич-
ному поводу в § 1.
274 ПЛАЗМА В МАГНИТНОМ ПОЛЕ ГЛ. V
Функция Sf дается интегралом E3.12), причем согласно
определению E3.10):
Q = -?^/о- E4-2)
Перепишем этот интеграл в более компактном виде, введя вместо
векторов к = (kz,'k±) и Е = (EZ,'E±) векторы
К = (kzr, 2k± sin -) , Ё = (Ez, Ё±), E4.3)
где к^ — вектор k_L, повернутый на угол т/2 (в плоскости, пер-
пендикулярной Bq), а Е^ — вектор E_l, повернутый на угол т.
Тогда Sf примет вид
оо
/exp{-*-(a;r-Kv)}/o(p)(Ev)dr,
J lwBe J
6f
TuJBe
0
где fo(p) — максвелловская функция распределения.
Это выражение подставим в E4.1) и заменим переменную ин-
тегрирования р = mv согласно
ъКТ
V = U — .
тииве
Интегрирование по d3u производится элементарно, и в результа-
те находим
сю
Р = ^ [ (в - -^(ЁКЖ) ехр \-™ - Щ-\ dT.
mUJUJBe J \ muJBe J |_ UBe ^mUJBe\
0
E4.4)
При этом, согласно определению E4.3):
K2 = ^2r2 + 4fcisin2l.
Расписав выраж:ение E4.4) в компонентах, найдем компонен-
ты тензора еа^. При этом условимся о выборе осей координат:
ось z — по Bq, ось ж - по ki, ось у — по [BokJ (рис. 15). После
простых вычислений получим
г М2е [
— °аC = / Ка
LULU Be I
0
ехр \ir^±^ - -кУВет2 - 2к\г2Ве sin2 I) dr, E4.5)
L UJBe 2 2 J
§ 54 МАГНИТОАКТИВНАЯ МАКСВЕЛЛОВСКАЯ ПЛАЗМА 275
где
кХх — cos т — (к±гвеJ sin2 т,
Куу = cos т + 4:(к±гвеJ sin4 -,
2
^ = 1 - {kzrBeJT2,
жХу = — >%ж = — sinr + 2(к_\_гвеJ sinт sin2 -, ^ ' '
2
¦ sin2 -
2
/ ~ ларморов радиус электронов).
Отметим, что равенства
заранее очевидны. Действительно, при фиксированной системе
координат согласно принципу Онсагера должно быть ?а/з(Во) =
= ?/За(~Во). При условленном же выше выборе осей, связанных
с направлениями Bq и к^, направления осей
у и z при замене Bq —>• — Bq меняются на
обратные. Поэтому в таких осях будет
еяЛВо) = -^(-Во), E4.8)
С другой стороны, Во (направление оси z) —
псевдовектор, а к^ и [BokJ (направления
осей хну) — истинные векторы. Поэтому, в с*
силу требования инвариантности по отношению к инверсии ко-
ординат, компоненты exz и eyz (содержащие индекс z один раз)
долж:ны быть нечетными, а все остальные компоненты — четны-
ми функциями Bq. Отсюда и из E4.8) следует E4.7).
Отметим, что ввиду соотношений E4.7) эрмитовы и антиэр-
митовы части различных компонент еа$ = е'ао + ге'^о выражают-
ся по-разному через их вещественную и мнимую части. Именно,
разбиение на эрмитову и антиэрмитову части дается следующей
суммой:
ie" е' ie" + \ -е' ie" е' \ (ЪА $\
°^ху ^уу u^yz \ \ \ ^ху УУ yz \ • yJ'-t'U)
Хотя мы производили все вычисления для электронной части
проницаемости, но вполне аналогичные формулы справедливы и
ссхх
~еху
ccxz
еху
•11
IF
yz
ie"
276 ПЛАЗМА В МАГНИТНОМ ПОЛЕ ГЛ. V
для ионного вклада. Переход к случаю ионов совершается заме-
ной tte,VTe —> Qi,VTi] ^Be —> ~^Вг и одновременной заменой
верхнего предела интеграла в E4.5) на —оо (см. примеч. на с.
271). Заменив затем переменную интегрирования т —>• —т, мы
вернемся к прежним выражениям E4.5), E4.6) с О^, г>тг, ^Вг
вместо Ое, VTei ^ве и с тем лишь отличием, что изменится знак
нху и >cyz. Таким образом, правило перехода от электронного
к ионному вкладу в проницаемость состоит в замене электрон-
ных параметров ионными с одновременным изменением знака
компонент ?ху и eyz.

Ви переглядаєте статтю (реферат): «Диэлектрическая проницаемость магнитоактивной максвелловской плазмы» з дисципліни «Теоретична фізика у 10 томах»

Заказать диплом курсовую реферат
Реферати та публікації на інші теми: Планування діяльності аудиторських фірм
НЕБАНКІВСЬКІ ФІНАНСОВО-КРЕДИТНІ УСТАНОВИ
РОЛЬ КРЕДИТУ В РОЗВИТКУ ЕКОНОМІКИ
Врахування забезпечення при визначенні чистого кредитного ризику
Оцінка і управління процентним ризиком


Категорія: Теоретична фізика у 10 томах | Додав: koljan (30.11.2013)
Переглядів: 482 | Рейтинг: 0.0/0
Всього коментарів: 0
Додавати коментарі можуть лише зареєстровані користувачі.
[ Реєстрація | Вхід ]

Онлайн замовлення

Заказать диплом курсовую реферат

Інші проекти




Діяльність здійснюється на основі свідоцтва про держреєстрацію ФОП