КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ И КРИСТАЛЛОФИЗИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ КООРДИНАТ
Здесь собраны правила выбора кристаллографических и кристаллофизи- ческих систем координат в кристаллах всех классов (см. §§ 4, 16, 86). В табл. АЛ приведены стандартные стереографические проекции, показывающие взаимное расположение элементов симметрии кристалла, кристаллографических и кристал- лофизических осей координат (Най, 1967, приложение 2). В табл. А.2 приведены сформулированные по возможности близко к IRE Standards A949) и подробно обсужденные в § 86 правила выбора стандартных кристаллографических *) и кристаллофизических координатных систем для всех 32 классов и правила выбора правой модификации в 11 энантиоморфных классах. Обозначения. X, Y, Z — оси кристаллографической системы координат; Xit X2, Х3 — оси кристаллофизической системы координат; а, Р, V — углы между положительными направлениями осей Y и Z, Z и X, X и Y соответственно; кр или крх означает, что данная кристаллографическая ось направлена по кратчайшему вектору решетки; кр2 — по кратчайшему вектору решетки, не кол- линеарному первому; кр3 — по кратчайшему вектору решетки, не компланарному двум первым; ±Ккр, значит, что данная ось направлена по кратчайшему из векторов решетки, перпендикулярных оси К; остальные обозначения понятны по аналогии; Sfyi — коэффициенты упругой податливости, d^ — пьезоэлектрические, я^и — пьезооптические коэффициенты, G — коэффициент гирации. Как кристаллографическая, так и кристаллофизическая системы — правые, углы между соответствующими их осями (Х'и Xlt Y и Х2, Z и Х3) меньше 90°. Эиантиоморфные модификации располагаются относительно введенных координатных систем так, что одна переходит в другую при инверсии.
Ви переглядаєте статтю (реферат): «КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ И КРИСТАЛЛОФИЗИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ КООРДИНАТ» з дисципліни «Основи кристалофізики»
