Поляризационный микроскоп предназначен для обеспечения поляризационных методов исследования мелких образцов. Микроскоп снабжен поляризатором, за ним следует диафрагма и конденсор, обычно двухкомпонентный. Верхний собирающий оптически сильный компонент конденсора может выключаться из хода лучей, когда требуется, чтобы через объект проходил относительно "параллельный" пучок света. Таким путем можно осветить объект плоско-поляризованным светом. Объективы и окуляры обычного типа, анализатор помещен в тубусе перед окуляром. Предпочтительно, чтобы анализатор был плоскопараллельным, чтобы при его вращении не происходило смещение изображения. Вспомогательный анализатор с лимбом для измерения поворотов помещается над окуляром. В оптическую систему микроскопа вставлены два поляроида с плоскостями поляризации света, повернутыми друг относительно друга на 90°. Обычно в тубусе над объективом, а иногда и под окуляром, предусматриваются пазы с тем, чтобы на пути лучей можно было ввести различные компенсаторы. Исследования с поляризационным микроскопом обычно помогают определить различные составляющие образцов горных пород; для этой цели шлифуется тонкий срез, который заклеивается между предметным и покровным стеклами. Если поместить шлиф между поляроидами то при прохождении света сквозь кристаллы, возникают эффекты преломления и интерференции, позволяющие точно измерить оптические константы и по ним определить соответствующие минералы.
Ви переглядаєте статтю (реферат): «Применение поляризационных микроскопов» з дисципліни «Курс лекцій з загальної фізики, орієнтований на будівельні спеціальності»
